开尔文探针表面光电压谱
开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。
材料表面的功函数通常由*上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种*灵敏的表面分析技术。
我们的开尔文探针系统包括：
□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；
□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；
□超高真空(UHV)开尔文探针；
□湿度控制的腐蚀开尔文探针；
扫描开尔文探针系统 (ASKP)
ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：
□2毫米，50微米探针；
□功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；
□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；
□表面势和样品形貌3维地图；
□探针扫描或样品扫描选配；
□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；
□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；
□备用的针尖放大器；
仪器的特色
□全球*一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；
□*高分辨率的功函数和表面势，*好的稳定性和数据重现性；
□非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；
□高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受 样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；
□该领域内，拥有*好的信噪比；
□快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；
□功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；
□所有开尔文探针参数的全数字控制；
ON 非零探测 Off Null detection
HR 高度调节模式 Height Regulation mode
SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal
UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters
DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects
PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode
SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)
WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting
DC 所有探针及探测参数的数字控制Digital Control of all Probe and Detection Parameters
QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution
DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software
OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit
FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)
RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample
额外选配项
SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package |
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