深圳SGS异物分析 (Foreign Material Analysis): 针对产品上的微小嵌入异物或表面污染物，析出物，例如嵌入异物，斑点、油状物，喷霜等异常物质进行定性分析，藉此找寻污染源或配方不相容者，改善产品时常需要的一种分析方法。
概述：在生产过程中，常常会遇到刚刚生产出来的产品会有一些黑点等异常缺陷或油污等表面污染，或者在经过一段时间的贮存、运输等环节，突然出现一些微小的斑点、油状物，粉状物等异物，此时就急需异物分析的方法可以分析出这些异物属是什么物质，进而寻找污染源或者污染环节，进行排除，改善配方体系，改善产品质量。
测试方法：根据异物的实际情况选用合适的红外光谱图采样方法，从而获得异物高质量的红外光谱图。可以根据异物红外光谱图官能团的吸收峰来确定异物的化学组成，一种简单的方法是通过仪器软件进行谱库检索，跟谱库中的标准红外光谱图的进行对比来确定异物的化学组成。
红外显微镜采集红外光谱图步骤：
①根据异物的实际情况选择合适的采集红外光谱图方法，常用的采集方法有反射法、透射法和衰减全反射法等；
②从OMNIC软件中设定好实验参数条件；
③找到并聚焦所需要测量的异物；
④点击COLLECT SAMPLE，同普通样品采集方法，根据提示进行异物红外光谱图采集。
详述： 近年来随着消费者对产品质量的要求越来越高，各个生产厂家对产品质量的控制也越来越严格，质量控制不再只是局限于产品的性能或成分含量，在产品或生产过程中出现的异常物质甚至异常颜色也需进行严格控制，而对异物和异色进行控制的*一步就是对其进行分析，确定其来源，因此企业对异物分析和表面解析的需求量呈逐年上升的趋势。目前广州SGS材料实验室用红外显微镜(IR-Microscope)的方法成功的检测出了微量有机物的异物，为很多企业提供了非常有价值的信息。
SGS深圳材料实验室
测试方法的分类：异物分析主要涉及三个方面，一是异物的有机物结构分析，主要用红外显微镜-FTIR；二是异物或材料表面的元素成分分析，主要用电子探针（EPMA）、扫描电镜能谱仪（SEM-EDX）、多功能光电子能谱仪（XPS）、能量色散型微区X 射线荧光光谱仪（μEDX）等；三是表面观察，主要用光学显微镜（OM）和电子显微镜（比如SEM）。 |
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