测试项目:有机物分析
所用仪器:傅立叶红外光谱仪、GC-MS
测试范围:反映材料的化学键信息,特别是有机物的官能团鉴定,液体的成分分析
主要性能指标:
• 光谱范围:7,500~375cm-1
• 红外分辨率:优于0.09cm-1
• 信噪比:45,000:1
测试项目:表面成分及化学态分析
所用仪器:X射线光电子能谱仪+俄歇能谱仪 (XPS)
测试范围:各种固体表面的元素成分、化学价态、分子结构分析和深度剖析
主要技术指标:
• XPS灵敏度:16,000,000 cps
• XPS能量分辨率:<0.48eV
• XPS*小分析面积:30μm
• AES灵敏度:500,000 cps
• AES能量分辨率:<0.4 dE/E
测试项目:样品成分分析
所用仪器:扫描电子显微镜+X射线能谱仪 (SEM+EDS)
测试范围:各种固体材料的形貌分析、微区化学成分检测,样品成份的线分布和面分布分析
主要性能指标:
• 分辨率:高真空模式3.0nm, 低真空模式4.0nm
• 放大率:×8~×300000
• *大样品尺寸:125×100×80mm
• 能谱能量分辨率:129.45eV
• 可测元素范围:铍Be~锿Es
测试项目:微量元素成分分析
使用仪器:二次离子质谱仪
英国MILLBROOK MiniSIMS MC300 MK II
测试范围及服务项目:检测特殊元素在表面的聚集,表面改性,等离子表面处理
主要性能指标:
• 质量分辨率:全质量范围分辨率m/dm>100
• 灵敏度:>5000cps/nA 98Mo++98MoO+
• 分析区域:分散离子束 固定范围直径为2.7+/-0.3mm
• 元素范围:3—300质量数
测试项目:样品相结构、表面应力分析
所用仪器:X 射线衍射仪
测试范围:粉末样品、固体样品的物相分析、微量相分析、薄膜分析、高温衍射、应力测量、晶粒度、晶胞参数等的测定
主要技术指标:
• 超高频电压发生器,高压稳定度:0.005%
• 转动方式:θ/θ模式和2θ模式
• 角度重现性:+/- 0.0001 度
• 探测器: ⑴X'Celerator超能探测器, 微型探测器数量超过100个
⑵正比探测器
• 光路:聚焦光路用于块材料,平行光用于表面相分析
• 样品台:多功能样品台应用于各种形状和较大尺寸成品试样;高温样品温度变化(室温—1200℃) |
 |
|