XTDP三维光学摄影测量系统，使用普通单反相机（非量测相机），通过多幅二维照片，基于工业近景摄影测量原理，重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型（几米到几十米）物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比，没有机械行程限制，不受被测物体的大小、体积、外形的限制，能够有效减少累积误差，提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等，而且没有繁琐的移站问题，方便大型工件测量。
系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。
图：摄影测量原理
0.2系统特色
国内*早*个自主研发的工业近景摄影测量系统
高精度的相机标定算法，适用于多种数码相机
自主知识产权的核心算法，达到国际先进水平
测量范围大：可测量0.3m~30m范围的物体
测量精度高：*高精度可达±0.015mm/m
测量速度快：拍照方便快速，计算速度快，测量结果三维可视化
具备CAD数模对比模块，可用于质量检测
具备静态变形测量模块，可测量工件变形数据
操作方便：设备不需要事先校正，使用方便，对操作人员无特殊要求
适应性强：不受环境及测量范围限制，可在车间或工业现场测量
便携式设计：设备轻便，单人可携带外出开展测量工作
支持64位系统操作系统，可多线程、多工程运算，计算速度更快。
0.3系统功能
系统采用近景摄影测量技术，在被测物体上放置编码点及非编码点，通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像，快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据，测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下：
（1）基本测量功能：
（2）变形测量功能：
（3）数模对比功能：
（4）分析报告功能：
（5）扩展接口 |
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