1.1系统介绍
XTDIC-Micro系列显微应变测量系统，将数字图像相关法（DIC）与双目体式显微镜技术结合，通过追踪获取显微镜下材料表面变形过程的序列二维散斑图像，解算出被测物体在各变形状态微观尺度的三维全场位移场和应变场，实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量，广泛的应用于生物力学、动态应变测量、高速变形测量、断裂力学、及动态材料试验中测量材料特性参数等。
基于双目体式显微镜光路系统，在实现显微观察的同时，可以实现微小物体的全场应变、位移的实时测量，具有速度快、精度高、易操作等特点。系统的多功能的控制箱提供了各种A/D采集，D/A输出及相机触发功能，并配有高精度的四维运动位移控制装置、显微应变测量专用微型拉力试验机和细微散斑制备装置，弥补了传统手段无法进行微小物体变形测量的不足，成为微观尺度领域变形应变测量的一个了有力测量手段，对于微结构件的力学性能测试具有重要意义。
1.2系统基本功能
核心技术：工业近景摄影测量、数字图像相关法；
测量结果：三维坐标、全场位移及应变；
测量幅面：支持几毫米到几米的测量幅面，根据需求可定制更多测量幅面；
测量相机：支持百万至千万像素相机，支持低速到高速相机，支持千兆网和Camera Link等多种相机接口；
测量模式：同时支持单相机二维测量和多相机三维测量；
实时测量：系统支持在线和离线两种处理模式，在线实时测量在采集图像的同时，可实时进行三维全场应变计算，而不是事后处理。
计算模式：具备自动计算和自定义计算两种模式；
测量结果：全场三维坐标、位移、应变数据等动态变形数据，应变模式有工程应变、格林应变、真实应变等三种；
多个检测工程：系统软件支持多个检测工程的计算、显示及分析；
1.3 售后服务
（1） 质量保证期为12个月，质量保证期自项目安装调试验收合格之日起计算。
（2） 在质量保证期内提供免费上门服务及技术支持，如属正常操作，造成某部件损坏，供方免费更换某部件；质量 保证期内出现故障导致仪器设备停用24小时以上的，可从质量保证期中扣除，部件免费更换；
（3） 在质量保证期外，如属正常操作，某部件、零件损坏，需要更换，只收取成本费。
（4） 如遇到质量问题，24小时内给予答复，72小时内到现场进行维修服务。一般问题应在3天内、重大问题应在1周内解决或提出明确解决方案。
（5） 每年定期一次电话或登门回访，提供永久性的技术指导与支持；
（6） 并终身免费为用户提供软件 |
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