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eMCP221探针金属盒转USB3.0母口测试座BGA221转USB3. eMCP221探针金属盒转USB3.0母口测试座BGA221转USB3.//eMCP221探针金属盒转USB3.0母口测试座BGA221转USB3.

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公 司: 深圳市鸿怡电子有限公司 
发布时间:2019年06月20日
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公 司:深圳市鸿怡电子有限公司

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详细说明

    eMCP221探针金属盒转USB3.0母口测试座BGA221转USB3.0测试座
适用于EMCP221封装芯片的测试;
可作为BGA221芯片测试、烧录、老化使用;
eMCP221探针+金属盒转USB3.0母口测试座


一.功能:

※ 可对未写保护的IC进行清空(格式化),测试IC好坏,大小容量,读取拷贝。

※ 如客户手机损坏,字库里的资料很重要,可以用我们的座子读取到里面的资料找回,手机维修,数据恢复的利器。

※ 客户常问这种测试座可不可以烧录资料进IC?

※ 答:可以,但需要烧录资料的相应软件,但我们不是芯片方案商,无法提供烧录软件,客户需自己有烧录软件方可烧录,否则只能像U盘一样拷贝。



二. 产品特性:

※ 支持热拔插和电源单独开关,支持通过USB接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测试;

※同时兼容221-FBGA ;

常见IC尺寸:
eMCP221:11.5×13mm;
※探针设计,后期加硬、加厚镀金层处理,从而保证产品稳定性及耐用性;
※ 采用翻盖式结构,操作方便简单;
※采用浮板结构,定位精确,取放IC方便,工作效率更高;

※同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(新帝)等所有同样封装4BIT、8BITeMMC闪存记忆体。


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