YT4200-P3分体铁基涂层测厚仪

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YT4200-P3分体铁基涂层测厚仪

YT4200-P3分体铁基涂层测厚仪//YT4200-P3分体铁基涂层测厚仪

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公　司：北京五苏信息科学研究院

发布时间：2019年06月10日

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电　　话： 010-69291666 传　　真： 010-69208459 手　　机： 13552597840 地　　址：中国北京大兴区大兴区兴华大街波普中心2号楼1815 邮　　编： 103600
公司主页：	http://bjwusu.qy6.com.cn(加入收藏)

详细说明

产品型号 YT4200-P3
产品名称分体铁基涂层测厚仪
符合标准 ASTM B499,ASTM D1400;
ISO 2178,ISO 2360，ISO 2808;
GB/T 4956/4957,JB/T 8393
基体 Fe
探头形式分体式
分辨率 0.1/1μm
测量范围 0~1250μm
测量精度零点校正:±(3%H+1)μm；
两点校正:±(1~3%H+1.5)μm；
注:H为样品厚度
最小测量尺寸 10×10mm
最小测量厚度磁性：0.2mm
最小曲率凸面半径5mm；凹面半径10mm
显示单位 μm
存储容量 /
统计功能 /
蓝牙 /
电源 2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池);
尺寸 102×66×24mm
重量 99g(含电池)
品质软件 /
工作温度 0~40oC(10~90%RH无凝露)
储存温度 -10~50oC
标准附件基体1块(铁基体),腕带，校准试片
可选附件校准试片(12μm,25μm)
注：技术参数仅为参考，以实际销售产品为准

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