金诺 GN401全自动ITO检测机全自动手机外观检测机

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公　司：深圳市金诺智能设备有限公司

发布时间：2019年07月08日

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详细说明

全自动ITO检测机，备主要用于检测TFT-CELL及Module裸露电极区域线路异常（因制程和操作不当导致的划伤，从而引起的线路open或short等缺陷）和线路微划伤（ITO未划透，暂时可以通电），检测系统需采用微分干涉成像技术或其它可以识别线路微划伤（ITO未划透，暂时可以通电）的成像技术，并采用先进算法判定出缺陷，主要包括自动上料，产品搬送单元、AOI检测单元，自动下料单元等。

产品尺寸范围 3-17寸
最小缺陷尺寸 0.002mm
搬送精度 X±0.02mm Y±0.02mm
适用产品 TFT-CELL及Module裸露电极
节拍 6-12S
电压/功率 AC220V / 50HZ /10KVA
漏检率 ≤1%
过检率 ≤5%
空气源压力 0.5-0.7kgf/cm
洁净度 0.5u

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