华碧实验室在电子元器件、微电子技术的质量与失效分析方面完成了大量科研任务，为提供领先行业的技术服务积累了厚实的技术基础。近些年来，随着企业对电子产品寿命评估、工艺质量改进、产品可靠性增长，为企业提供相关科研技术支撑和实际问题解决方案。
科研对象 Research Objects
大规模集成电路
线路板及线路板组件
混合集成电路及多芯片组件
光电器件
微波器件及组件
阻容元器件、继电器、连接器
RoHS及有害物质控制管理系统
Integrated Circuit
PCB & PCBA
Hybrid Integrated Circuit
Photoelectron Device
Microwave Device
Resistor, Capacitance, Relay, Connector
RoHS & Pollution Administration system
研究领域与方向 Research Areas
可靠性物理
失效模式、失效机理及其数理模型
可靠性设计与仿真技术
ESD设计
热设计有限元仿真
生产过程质量控制技术
SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC
失效分析与材料分析技术
FIB、EB、SEM及其分析技术
可靠性测试、评价、试验技术
先进电子封装/组装互连可靠性
高加速应力试验方法，极限应力试验方法
电子产品寿命评价
可靠性增长技术
基于失效物理 （PoF）的可靠性增长方案
Reliability Physics
Failure Mode & Failure Mechanism
Reliability Design and Simulation
ESD Design
FEA
Process Control
TCPI
Failure Analysis and Material Analysis
FIB、EB、SEM
Reliability Test, Evaluation
Reliability of Solder Joint for Assembly & package
HAST
Life Prediction
Reliability Growth
PoF Reliability Growth
科研成果 Achievements
RoHS及有害物质控制管理系统
强大的可靠性数据库
专业试验设备研制
RoHS & Pollution Administration system
Reliability Datebase
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