QFN48IC测试老化座下压老化座探针老化座

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公　司：深圳圆融达微电子技术有限公司

发布时间：2020年10月19日

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电　　话： 0755-33127975 传　　真： 0755-33127975 手　　机： 13418498203 地　　址：中国广东深圳市深圳市龙华新区观澜大富工业园20号智能终端产业园A5 栋一楼邮　　编： 518000
公司主页：	http://yuanrongda.qy6.com.cn(加入收藏)

详细说明

产品特性：
采用单扣/双扣式旋钮结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不偏移;
  压块结构合理，下压速度线性可控,下压力度平稳均衡，芯片管壳受力均匀保证安全；
  精确的定位槽、导向孔,确保IC定位精确；
整体采用高性能耐高温绝缘工程材料制作，可根据客户要求、满足24H/48H/72H老化测试测试电流*高可达10 A，电压220V/380V，可满足：湿度90%,及军工三温：- 45摄氏度/常温/+150度的温差等恶劣老化测试环境;
  探针的爪头呈凹圆弧型,有效承托锡球，既可以保证接触性能稳定又能保护锡球和焊盘外形；
双头探针或单头焊接式探针结构，保证探针和PCB板接触良好;
  探针更换方便，维修成本低;
*小可做到测试间距：
双头探针：Pitch=0.25mm
单头焊接：Pitch= 0.5 mm
可根据用户要求定做各种阵列的集成电路产品老化验证测试;Socket;
交货速度快，*快3天出货！工厂直销！品质保证！
产品用途：集成电路产品老化验证测试

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