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Microchip(原Microsemi)3120A相位噪声测试仪 Microchip(原Microsemi)3120A相位噪声测试仪//Microchip(原Microsemi)3120A相位噪声测试仪

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公 司: 北京创宇星通科技有限公司 
发布时间:2024年08月23日
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公 司:北京创宇星通科技有限公司

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详细说明

    美高森美Microsemi(原Symmetricom)3120A相位噪声测试探针

相位噪声测试探针
3120A可以精确测量0.5-30 MHz信号源的相噪和阿伦方差指标,这几乎覆盖了所有常用的频率源。3120需要一个外部参考源和一台连接3120A的PC机进行测量。此外,客户还可以通过申请授权码的形式购买软件升级选项,分别是AM噪声选项,信号统计(MDEV,ADEV,TDEV,抖动)选项,频率计数器选项,波罩测试选项。
全数字架构的3120A使用先进,高速,低噪声的数模转换器,不需要锁相环即可进行测量。配合3120A相噪测试软件,客户可以用一种低成本的方法获取待测信号源的相关指标。
主要特点
操作简便
测试结果输出(几秒内),无需校准
输入载波信号可以比以前更准确
阿伦方差与相位噪声测量同时进行
易于使用的软件界面(基于windows)
包括数字I/O扩展端口和独立访问输入的模数转换器
基础模型(HW工具包)
升级选项
AM噪声选项
信号统计(MDEV,ADEV,TDEV,抖动)选项
频率计数器选项
波罩测试选项

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北京创宇星通科技有限公司(专业时间频率、时间同步、授时产品与方案供应商)
地址:北京市海淀区学院南路68号吉安大厦A座502室
联系人:李继 手机:1 3 7 1 7 6 9 2 0 7 9
QQ:316568005


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