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功率循环测试仪 功率循环测试仪//功率循环测试仪

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公 司: 深圳市华科智源科技有限公司 
发布时间:2023年07月21日
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公 司:深圳市华科智源科技有限公司

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    华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及*高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。


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