测试项目：
1：形貌、能谱点扫、能谱线扫、能谱面扫（mapping）
2：仪器放大倍数范围是100倍-20W倍，常规样品可以拍摄到8-10W倍，导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。
3：能谱：SEM能谱一般只能测C（含C）以后的元素，（B元素也能做，但是不准，不建议做）如果需要打能谱，需要备注好测试位置以及能谱打哪些元素，需要注意的是制样时待测元素不能与基底成分有重合，如果要测C元素，样品不要分散到含C的基底上，可以分散到硅片，锡纸上，如果要测Si元素，注意不要制样到硅片上。
注意事项：
(1)要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。保证测试人员安全；
(2)样品必须干燥，不含水分或有机挥发物；
(3)样品必须具有稳定的化学性质和物理性质，在高能电子束的辐照下保持成分稳定和形态不变；
(4)样品观察面应清洁，无污染物，同时观察面应尽量平整；
(5)样品必须具有良好的导电性和导热性，在电子束轰击下不易被分解，热稳定性高；
(6)磁性样品要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响；
(7)样品可以是粉末、薄膜、块体，无论是表面还是新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以保持其原始的结构状态。
样品量的要求：
粉末、液体、薄膜、块体均可测试，粉体样品大概10mg，块体样品要求长宽≤25px，厚度≤25px，样品质量不超过200g；混凝土，珊瑚沙，气凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm，厚度≤5mm；
(8)块体：直接用导电胶粘在样品台上测试，若需拍块体/薄膜截面，需明确截面制备方法，一般可以提供剪刀裁剪和液氮脆断两种方式；薄膜或块状标记好要测试的面（正面和反面），制样方式有特殊需求请说明 |
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