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X射线荧光镀层膜厚测试仪 X射线荧光镀层膜厚测试仪//X射线荧光镀层膜厚测试仪

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公 司: 江苏天瑞仪器股份有限公司 
发布时间:2024年06月24日
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孙经理 先生 (销售经理)
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邮  编: 215300
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公 司:江苏天瑞仪器股份有限公司

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详细说明

    X射线荧光镀层膜厚测试仪EDX2000A是江苏天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款上照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
X射线荧光镀层膜厚测试仪EDX2000A对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

X荧光镀层膜厚仪超高硬件配置
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。
高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

EDX2000A膜厚测试仪设计亮点
上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,满足微小产品,台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台,微小密集型可多点测试,大大提高测样效率。自带数据校对系统。

软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。


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