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膜厚仪高端型X-RAY镀层测试仪 膜厚仪高端型X-RAY镀层测试仪//膜厚仪高端型X-RAY镀层测试仪

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公 司: 深圳市金东霖科技有限公司 
发布时间:2014年01月07日
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公 司:深圳市金东霖科技有限公司

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详细说明

    轻巧的设计,半开放式测试算,可容纳大件的PCB产品,功能强大,可配合激光自动对焦,全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。
美国博曼(Bowman) 更配备了半导体电子冷却检测器,令分辩率数倍提高,可测量非常薄的镀层,满足于半导体电子工业的应用。

能量色散型X荧光光谱仪博曼(Bowman)原理简介
    来自X射线管的特征X射线照射到样品上,样品中含有的元素受X射线激发后会发出特有能量的X射线荧光。用检测器检测X射线荧光,根据X射线荧光的能量进行定性(确定含有什么元素),根据X射线荧光的强度进行定量(确定元素的含量)。
    检测器直接测定的是元素X射线荧光的强度,而我们关心的是元素的含量。利用X射线荧光的强度与元素含量存在比例关系,我们通过测定已知含量的标准样品建立工作曲线(安装工程师设定),再根据待测样品的X射线荧光的强度通过计算机自动换算为含量值。

 公司名称:深圳市金东霖科技有限公司
 地址:深圳沙井北环大道110号新综合大楼502
 公司网址: http://www.kinglinhk.com
 联系人:夏瑾   手机:13602569417  
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