锦通自动化位于珠三角西岸中山市，公司于2012年成立。自公司成立以来，经过全体员工的不懈努力，公司不断壮大，业务已遍布整个华南。我们致力于提高企业的生产效率、节约生产成本和解决企业难以聘请普工的难题，为客户度身定做自动化设备和配套的工装治具，并提供从研发、生产、销售到维护的一站式服务。
我们一直专注于自动组装设备，老化设备，测试设备及工装等等。我们拥有一支经验丰富、勇于创新的研发队伍，通过引进和吸收国内外先进技术，不断提高研发能力，力求满足客户多元化的需求。我们不断研发出高质量的新产品，并获得了广大用户的好评。木林森，纬创资通，泰然光电，佳能等知名企业已与我们建立了长期友好的合作关系。
我们会继续以精良的产品、合理的价格、优质的服务来迎接瞬息万变的市场需求，满足用户不断发展的业务需要，为广大客户的产品开发、生产提供系统、全面、周到的一条龙服务。
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以下内容为你解读本产品：
因为FCT测试治具的区别,CP和FT的不同点并不只是限于所在的工序期间不同,两者在效率和功用笼盖上都有着明显的区别,这些信息是每一个IC从业职工需求根本了解的。
那这样一来,咱们还需不需求CP测试?或许在CP测试期间怎么对具体测试项目进行取舍呢?要回答这个题目,咱们就必需对CP的意图有深入的了解.那CP的意图究竟是啥呢?
当然,理论上在CP期间也能够进行高速信号和高精度信号的测试,但这一般需求采用专业的高速探针计划,如笔直针/MEMS探针等技能,这会大大增加硬件的本钱.多数情况下,这在经济视点上来说是分歧算的。
关于CP和FT的测试,我本来以为这个论题已经是业界知识,不需求专门再谈了.不外前几天和一个设计公司的主管交流了一下,发现真实良多非测试专业的从业职工对这两个概念真实了解并不像我以为的那样深入.所以,我仍是有必要在这里再谈一下。
按照国际惯例,首要需求再解释一下啥是CP和FT测试.CP是(Chip Probe)的缩写,指的是芯片在wafer的期间,就经过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行机能及功用测试,有时候这道工序也被称作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的缩写,指的是芯片在封装完结今后进行的*极测试,只要经过测试的芯片才会被出货。
这关于高精度的信号测量也会带来无穷的影响.所以,一般FCT测试治具只是用于根本的衔接测试和低速的数字电路测试。
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