FE-SEM测试_FE-SEM检测_场发射扫描电镜测试

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公　司：上海剂拓材料科技有限公司

发布时间：2015年09月06日

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详细说明

FE-SEM测试_FE-SEM检测_场发射扫描电镜测试_检测
场发射SEM EDS扫描电镜
是依据电子与物质的相互作用。样品表面加一个强电场，样品表面势垒降低，由于隧道效应，样品金属内部的电子穿过势垒从金属表面发射出来，这种现象称场发射。亮度高约比普通SEM高100倍，分辨率可达10nm.
2. FE-SEM EDS扫描电镜能谱应用
材料，粉体，矿物粒径大小，表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。
3.适用标准
GB/T 16594-2008微米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
4.送样要求
粉状样品1-5g之间，能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm.

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