美国BOWMAN（博曼）X射线膜厚测试仪

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公　司：深圳市金东霖科技有限公司

发布时间：2014年09月28日

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X射线测厚仪是基于射线通过物质时，透过的射线强度，随物质的厚度不同而改变的原理制成的非接触、透射式厚度测量装置。美国博曼BA100，博曼膜厚测试仪高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等，测量厚度可以至微米（um），微英寸（u”），

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