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麦克博斯仪器有限公司：led半导体老化房，高温老化测试室详细资料
1．主要技术参数：
1.1 温度范围：常温+5℃－－60℃（常温+5℃－－-80℃）
1.2 温度波动：±0.5℃；
1.3 温度偏差：*大精度±3℃（可根据客户要求设计精度）
1.4 房内尺寸：按要求；
1.5 运行方式：温度可调，恒定运行或程序运行（可选触摸屏式程序运行）
1.6 安装电源：AC~380V；50 Hz；
1.7 噪音大小：≦75分贝
led半导体老化房，高温老化测试室控制系统；
采用两级PID调节加热量，实现对测试区（产品区）温度的精确控制，同时温度控制器可以对测试区任意温度进行滚动实时显示,有独立负载的还可以对负载区的温度进行监控，防止负载区温度过高，方便客户准确掌握测试区温度情况。控制系统还设定了各种保护功能，有超温报警保护、风机故障报警保护、无风报警保护、室内烟气感应报警保护等，完善的保护功能确保了老化房能长期稳定无故障运行。（可选PLC来控制）
老化房，又叫烧机房，是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
led半导体老化房，高温老化测试室，又叫高低温试验室或温升房,是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。根据不同的要求配置主体系统。 |
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