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江苏天瑞仪器股份有限公司
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X-ray镀层测厚仪 |
X-ray镀层测厚仪已经成为电力行业,PCB行业,贵金属首饰行业的镀层分析的常规手段,比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。
X-ray镀层测厚仪的原理:
被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。
由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。
以PCB线路板工业为例,详细了解X-ray镀层测厚仪的功能:
PCB线路板主要有镀金,镀镍,镀铜,镀银,镀锡等种类。其电镀工艺流程如下:
浸酸→全板电镀铜→图形转移→酸性除油→二级逆流漂洗→微蚀→二级浸酸→镀锡→二级逆流漂洗→浸酸→图形电镀铜→二级逆流漂洗→镀镍→二级水洗→浸柠檬酸→镀金→回收→2-3级纯水洗→烘干。
对于PCB生产企业来说,厚度的有效控制能做到有效的节约成本,又能满足客户需求,做到耐氧化、耐磨等。而X射线荧光镀层测厚法是PCB工业检测电镀厚度的有效手段。下面介绍一款PCB镀层测厚仪THick800A。
利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪,又膜厚测试仪,镀层检测仪,XRF测厚仪,PCB镀层测厚仪,金属镀层测厚仪等。X射线能同时实现多镀层厚度分析。在实际应用中,多采用实际相近的镀层标注样品进行比较测量(即采用标准曲线法进行对比测试的方法)来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。
X-ray镀层测厚仪thick800a性能特点:
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上*先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于145eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
精度:超高精度,可达0.001um
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高 |
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