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上海翔研精密仪器有限公司
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| 德国菲希尔FISCHER XDL XDLM XDAL X 射线荧光镀层测 |
德国菲希尔XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。
 
特性：
操作简单且性价比高。
自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品
广泛适用：为各个行业的典型需求量身定制了多种型号
以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析
带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对极薄镀层及微量成分进行精确测量
 
应用：
镀层厚度测量
● 厚度仅为几纳米的贵金属镀层
● 时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析
● 抗磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量
● 测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM） 
 
材料分析
● 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度
● 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析
● 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属）
● 功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量 |
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