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西安长禾半导体技术有限公司
联系人:蒲经理
先生 (运营经理) |
电 话:17792574070 |
手 机:17792574070  |
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MOSFET、IGBT直流电参数测试服务中心 |
检测项目 覆盖产品 检测能力 参考标准
直流参数 MOSFET、IGBT、DIODE等模块产品; 检测*大电压:7500V 检测*大电流:6000A 国标,IEC
雪崩能量 MOSFET、IGBT、DIODE,第三代半导体器件等单管器件 检测*大电压:2500V 检测*大电流:200A 美军标
栅极电阻 MOSFET、IGBT及第三代半导体器件 检测阻抗:0.1Ω~50Ω JEDEC
开关时间 MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半导体单管器件; 检测*大电压:1200V 检测*大电流:200A 美军标,国标,IEC等
开关时间 IGBT等模块产品 检测*大电压:2700V 检测*大电流:4000A 国标,IEC
反向恢复 MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半导体器件等单管器件 检测*大电压:1200V 检测*大电流:200A 美军标,国标,IEC等
反向恢复 IGBT等模块产品 检测*大电压:2700V 检测*大电流:4000A 国标,IEC
栅极电荷 MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半导体器件等单管器件 检测*大电压:1200V 检测*大电流:200A 美军标,国标,IEC等
栅极电荷 IGBT等模块产品 检测*大电压:2700V 检测*大电流:4000A 国标,IEC
短路耐量能力 MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半导体器件等单管器件 检测*大电压:1200V 检测*大电流:1000A 美军标,国标,IEC等
短路耐量能力 IGBT等模块产品 检测*大电压:2700V 检测*大电流:10000A 国标,IEC
结电容 MOSFET、IGBT及第三代半导体器件等单管器件 检测*大电压:3000V IEC
参数曲线扫描 MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR,第三代半导体器件等单管器件的I-V、C-V曲线 检测*大电压:3000V 检测*大电流:1500A 温度:-70°C~180°C 美军标,IEC等
热阻性能 MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR,第三代半导体器件等单管产品 *大功率:250W 美军标,JEDEC
热阻性能 IGBT等模块产品 *大功率:4000W 美军标,JEDEC
ESD能力 MOSFET、IGBT、IC等产品 HBM*大电压:8000V;MM*大电压:800V 美军标,ANSI,JEDEC等
*正向浪涌能力 DIODE(Si/SiC)、整流桥 检测*大电流:800A 美军标,国标 |
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