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陕西博微电通科技有限责任公司
| 联系人：武先生
先生 (产品经理) |
| 电 话：029-33197397 |
手 机：15353786259  |
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| BW-4022A半导体分立器件测试系统 |
一、产品介绍：
BW-4022A 晶体管直流参数测试机是新一代针对半导体器件测试系统，经过我公司多次升级与产品迭代，目前测试性能、精度、测试范围及产品稳定度得到大幅提升，成为半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、研发分析、产品选型等重要检测设备之一。
BW-4022A 晶体管直流参数测试机大规模 32 位 ARM&MCU 设计， PC 中文操作界面，高压源 2500V：选配 1.4KV-- 2KV，高流源 500A ：选配 40A、100A、200A、300A 及以上。程控软件基于 Lab VIEW 平台， 填充调用式菜单操作界面，测试界面简洁灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座，只需要根据不同器件更换测试座配合系统自适应测试设置可完成大多数电子元件的静态参数参数， 系统内部配置因线路、接触性、及 EMC 引起的干扰进行自动补偿，确保测试结果准确度；针对 Si/SiC/GaN 材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR 等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试。
可对常见的 SOD/SOT/DO/TO/LL/DFN 等封装进行直接配置测试，对特殊封装夹具进行定制，通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试，测试数据可在线存贮、导出，
二、服务领域与应用场景：
产品特点：
▶ 客户端PC、工控机均可程控测试机进行测试
▶ 菜单调用式测试程序亦可编辑软件操作简便、人机界面友好
▶ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试
▶ 系统基于 Lab VIEW 平台开发
▶ 自动识别器件极性、 NPN/PNP
▶16 位 ADC，1M/S 采样速率；
▶高压源 2500V：选配1.4KV-- 2KV
▶高流源500A ：选配 40A、100A、200A、300A及以上
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