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基本型 多层镍型
测量原理 利用与镀层、基材相对应的电解液、在一起电流所溶解
的厚度和时间成正比，来测定膜厚的一种测量方式（即
运用电化学中的库仑法来测定膜厚） 1、测量厚度的原理和基本型相同。
2、测量电位差是利用不同镍层之间的电位差异来反映各层镍
的厚度及层间电位差。
可测定材料 可被电解液所电解的金属镀层，如：铜、镍、铬、锌、
银、金、锡等。 基本型仪器可测量的各种镀种的厚度及多层镍的层间电位差
测量范围 0.03微米~99.99微米 厚度：0.03微米~99.99微米 电位差：-100mV~+400mV
准确度 ±10% 厚度：±10% 电位差：±5%
复现精度 <5% <5%
测量值表示 LED4 位显示，其中两位为小数。打印输出四位数字，其
中两位为小数。 除了拥有LED4位显示和4位打印输出以外还有绘图仪输出电位
差曲线，绘图仪输出的图形是在X轴代表电位(mV)，Y 轴代表
厚度(μm)的座标轴上显示的比例曲线。
测量面积 A橡皮垫圈 φ2.5mm B橡皮垫圈 φ1.7mm A橡皮垫圈 φ2.5mm B橡皮垫圈 φ1.7mm
性能特点 操作简便，复现性好，可测量单层、复合层电镀。
具有内置微电脑，直观显示各层厚度。 操作简便，复现性好，可测量单层、复合层电镀。具有内置
微电脑，经过微电脑处理，直观显示各层厚度及电位差。
设备配备
主机、电解池、有机测量架、橡皮垫圈、标准样板、打
印纸及支架、试剂瓶等 主机、电解池、有机测量架、橡皮垫圈、标准样板、打印纸
及支架、试剂瓶、绘图仪等
注：另可附加测量小体积物体及线材的功能(体积、形状、大小无限制)。 |
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