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GCTX-2000A/B图像颗粒分析系统是北京冠测精电仪器有限公司研制的图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。仪器分二种型号，技术原理、参数都相同，GCTX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜，GCTX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。基本工作流程是通过专用数字摄像头和显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到电脑中，用专门的颗粒图像分析软件对图像进行处理与分析，通过显示器和打印机输出分析结果。本系统具有直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点，不仅可以用来观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、长径比等指标，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。
一、指标与性能
1、测试范围： 1-3000μm。
2、系统放大倍数：4000倍。
3、*大分辨率：0.1μm。
4、重复性误差：<3%（不包含样品制备因素造成的误差）。
5、数字摄像头(CCD)：500万像素。
6、显微镜：国产生物显微镜、进口生物显微镜、金相显微镜。
7、标尺刻度：10μm。
8、分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等。
9、自动分割速度：< 1秒。
10、分割成功率：> 93% 。
11、软件运行环境：Windows 2000、Windows XP。
12、接口方式：RS232或USB方式。
北京冠测微粒测控技术有限公司是中国领先的粉体、纳米、微粒研究测试机构，专注于粉体颗粒材料检测分析技术的自动化、试验方法的创新和新技术的应用。
业务范围：精密科研仪器、质量检测仪器研发生产，同时还承接检测服务，适用于科研院所、生产企业科研及质量检测等
中国微粒纳米研究测试中心
公司名称：北京冠测微粒测控技术有限公司
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