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仪器名称
型号
场发射透射电镜（TEM）
Tecnai G2 F30
主要技术参数
1、加速电压300kV
2、信息分辨率0.14nm
3、点分辨率0.20nm
4、线分辨率0.1nm
5、样品比较大倾角+/- 40o
6、放大倍数：60-1000000
7、电子枪：Schottly场发射电子枪
应用范围
提供300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。广泛应用于材料科学、生物医学、地质矿产、化学、环境、光电子等领域。
材料要求
制备可供透射电镜观察的样品（固体样品需要有薄区）
仪器特点
1、 高性能的TEM成像、STEM成像和纳米分析
2、 可借助完全嵌入式STEM、CC相机、EDX探测器、EELS谱仪和能量过滤器实现同步数据记录
3、 灵活的高电压；300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品
4、 低至亚纳米尺度的健全常规分析
5、 超洁净真空
可进行磁性和非磁性样品的检测：
非磁性样品价格：
高倍率形貌400元/样品；高倍率衍射200元/样品；mapping600元/样品
磁性样品价格：
高倍率形貌500元/样品；高倍率衍射300元/样品；mapping700元/样品
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