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供应自动半导体芯片推拉力测试机 供应自动半导体芯片推拉力测试机_深圳市博森源电子有限公司_供应自动半导体芯片推拉力测试机

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公 司: 深圳市博森源电子有限公司
发布时间:2024年05月06日
有 效 期:2024年11月05日
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靳海昆 先生 (销售经理)
联系时,请说是在企业录看到的,谢谢!
电  话: 0755-28468925
传  真:
手  机: 15323457189
地  址: 中国广东深圳市龙华区华荣路416号鸿富工业园C栋二层
邮  编:
公司主页: http://bsytest.qy6.com.cn(加入收藏)
公 司:深圳市博森源电子有限公司

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详细说明

    供应自动半导体芯片推拉力测试机核心竞争力:
多功能性:该自动推拉力测试机可用于多种材料的拉伸、压缩、弯曲、剪切等测试,适用于各种行业的质量控制和研发。
自动化:该测试机采用电脑控制系统,可自动完成测试过程,提高测试效率和准确性。
精度高:该测试机采用高精度传感器和控制系统,能够精确测量材料的力学性能,保证测试结果的准确性。
易操作:该测试机操作简单,可通过电脑控制系统进行测试参数设置和数据处理,无需专业技能。
安全可靠:该测试机采用高强度材料制造,具有良好的稳定性和耐用性,同时配备安全保护装置,确保测试过程的安全。
大容量:该测试机可测试大范围的力值,适用于各种规格的材料测试。
可定制化:该测试机可根据客户需求进行定制,满足不同行业的测试需求。

设备测试参数:
设备型号:LB-8100A
测试精度:传感器精度±0.003%;综合测试精度±0.25%
测试范围:根据客户产品配置不同量程测试模块
工作方式:推针及拉针180度垂直与测试产品接触,确保数据的准确性
传感器更换方式:手动更换测试模组
操作系统:控制系统+Windows操作界面
平台夹具:机台可共用各种夹具,夹具可360度旋转
X轴行程:75mm
X轴分辨率:+/-0.002mm
Y轴行程:75mm
Y轴分辨率:+/-0.002mm
Z轴行程:80mm
Z轴分辨率:+/-0.001mm
电源:220V±5%
功率:300W(MAX)
外型尺寸:长:500*550*440mm
重量:80k


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