半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性（LI和LIM）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场/近场特性（FF）和热特性（T）。打印测试报告，保存数据。测试光功率范围0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从400-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。
特点：
*采用单片机控制，按功能模快化设计, USB接口，性能稳定可靠；
* LD驱动电源连续/脉冲工作可选，具有过流保护、低噪声、无浪涌和过脉冲；
*自动完成测试、数据采集、数据处理和显示及打印。
测试参数如下：
IO 工作电流 Ith 阈值电流
PO 输出光功率 ES 斜率效率
VO 工作电压 EP 功率效率
Rd 微分电阻 λp 激光峰值波长
IM 背光电流 Δλ 波长宽度
θ∥ 远场水平发散角
θ⊥ 远场水平发散角
Rth 热阻
型号 功率 功率 波长 发散角 *大
范围[1] 精度 范围[2] 测量范围 电流[3]
FLDT-100m 1～100mW 5.0% 600-1650nm -60°～＋60° 400mA
FLDT-10W 0.1～10W 5.0% 600-1650nm -60°～＋60° 12A
FLDT-100W 1～100W 5.0% 600-1580nm -60°～＋60° 60A
FLDT-500W 1～500W 5.0% 600-1580nm -60°～＋60° 150A
注：[1]更大功率需要定制。[2] 更大范围需要定制。[3]CW或脉冲 |
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