Microchip 53100A相位噪声分析仪
概述
53100A相位噪声分析仪可以测量高性能RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性，时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中，小巧的外形和业界领先的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。
继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点，53100A可以以更低的成本来快速精确地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦方差。得益于改进地设计和制造工艺进步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。
特点
信号输入和参考输入，频率范围1MHz到200MHz
没有相位锁定和不需要测量校准
单或双参考振荡器输入允许互相关测量
TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担
直观的图形界面使用户能够快速开始测量
测量
亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图
绝对频率计数精度每秒钟13位以上，可到17位
ADEV典型值<5E-15（1秒）
可以测量MDEV、HDEV、TDEV
相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz载波）
时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率
在Windows系统上使用高性能的基于电脑的DSP技术，所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据，包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源，参考源频率为1MHz到200MHz，仪器本身不需要校准。
规格（25℃环境），除非备注其他温度
性能
频率范围 1到200MHz
ADEV <7E-15 (1秒)
<2E-16(1000秒)
相位噪声规格
偏移频率范围：0.001Hz到1MHz
系统噪声平面
偏移 5MHz载波 100MHz载波
1Hz -135 -120
10Hz -145 -130
100Hz -155 -145
1kHz -165 -160
10kHz -170 -170
>100kHz -170 -170
Spurious (5到100MHz) -100 -100
电气特性
输入信号电平：-5到+15dBm
输入阻抗：50欧姆
欲了解更多信息请联系：
北京创宇星通科技有限公司（Microchip授权代理）
地址：北京市海淀区学院南路68号吉安大厦A座502室
联系人：李继 手机：1 3 7 1 7 6 9 2 0 7 9
QQ：3 1 6 5 6 8 0 0 5 |
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