Nordson DAGE Quadra 系列X射线检测系统
DAGE Quadra 5 X光检查机
主要检测:电子元器件、PCBA 电路板内部焊接,短路,气孔,气泡,裂纹,及异物检查。
Quadra 5 X 射线检测系统适用于亚微米材料的应用,如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。
广泛应用
球栅阵列(BGA )
四方扁平无引脚(QFN )
四方扁平封装(QFP )
堆叠式封装(POP )
印刷电路板/印刷电路板组装(PCB / PCBA )
集成电路(IC)
半导体封装
微电机系统(MEMS ,MOEMS )
电源管理集成电路(PMIC’s )/ IGBT
扇出型晶圆级封装(FO-WLP )
3D堆叠封装
高性能内存
连接器
底部端接元器件(BTC )
射频设备
焊盘分析
铜柱
微米级球体
镀通孔(PTH )
焊线分析
Quadra 5 系统规格
射线管
类型:QuadraNT 密封式透射管
特征分辨率:10瓦以内0.35微米,20瓦以内0.95微米
*大功率:10瓦(可选配20瓦)
电压:30 - 160千伏
探测器
类型:Aspire FP
分辨率:300万像素
帧率:25帧/秒
像素点间距:50微米
数字图像处理:16比特
系统
*大几何放大倍率:2500倍
*大总放大倍数:45,000倍
显示分辨率(像素/英寸):94像素/英寸
显示器:单,24寸,宽屏扩展图形阵列,分辨率为1920 x 1200
斜角视图:70°
主动减振:A iS - X射线图像主动防抖
选配功能
高功率升级:10瓦至20瓦
尺寸:1570 x 1500 x 1900 mm(W x D x H)
重量:1950 K |
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