Ux-6200产品信息：
本仪器专门针对贵金属测试，采用*新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用*新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用领先于全球的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内领先水平。
Ux-6200应用领域：
贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测；
用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。
Ux-6200功能：
开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区
经验系数法和基本参数法相结合
测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求
安全性能：迷宫式设计，完全达到辐射安全指标
测试操作简单，实现傻瓜式操作模式
报告模板多样化，适应各种测试需求
Ux-6200仪器参数：
分析软件：Ux-6200专用贵金属分析软件
分析元素种类：26种元素可同时分析
分析方法：基本参数法（定量）
分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素
测量范围：ppm-100%
测量时间：100－300s
精确度：0.1%（常量相对误差）
分辨率：149±5eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
功率：350W
外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3）
样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3）
重量：约48Kg
工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露）
工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W
Ux-6200标准配置：
探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm2；Be窗厚度为1mil
高压电源：高压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05%
X射线管：专用薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶）
高清摄像头装置
精确定位装置
自动开盖装置 |
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