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公 司: 深圳市安达仪器仪表有限公司
发布时间:2015年10月14日
有 效 期:2016年04月14日
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公 司:深圳市安达仪器仪表有限公司

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详细说明

    X射线测厚仪标准校正片,建档标准片,校正标准片,X射线标准校正,美国Calmetrics膜厚仪标准片Calibration Standard: X射线测厚仪标准片 镀层标准片 膜厚片 测厚仪标准片 其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。 适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。 特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。 X射线测厚仪标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如:单镀层:Ag/xx,双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx。(所有标准片都附有NIST证书) 我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值NIST证书.


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