分析方法及系统软件
分析方法配置：
►基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
► 经验系数法
► 理论α系数法
软件功能描述：
► RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
► 各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
► 聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
► 分析报告的自主定制与输出打印
► 分析结果的保存、查询及统计
► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
► 多层镀层厚度测量功能（选配）
主要配置
►美国Si-PIN电制冷半导体探测器
►侧窗钼（Mo）靶管
►标配16组复合滤光片
►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
►具备符合中国国家标准的样品混侧功能
►内置标准工作曲线
►配置On-line实时在线技术支持与服务平台
►具备开放工作曲线技术平台
►分析软件操作系统分级管理
产品参数
名称：X荧光光谱仪
型号：NDA200
输入电压：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
环境温度：15-30℃
环境湿度：≤80%（不结露）
主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440
样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120
主机重量：约60公斤 |
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