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Led多功能老化测试卡V3.0 Led多功能老化测试卡V3.0_祥云光电深圳科技有限公司_Led多功能老化测试卡V3.0

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公 司: 祥云光电深圳科技有限公司
发布时间:2013年11月09日
有 效 期:2014年05月08日
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公 司:祥云光电深圳科技有限公司

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详细说明

    v3.0多功能测试卡,触摸键,更高档,更耐用
LED屏多功能测试从*一代到第三代,从功能到性能有大步的提升,第三代LED屏多功能测试卡针对LED显示屏单元板或LED全彩外露串灯(发光字串灯) 进行测试、维修和老化,一卡在手能通用市面上大部分LED屏显示模组和LED全彩串灯,无需电脑烦琐的设置,操作简洁;还可以通过按键和拨码盘选择不同的显示方式和扫描模式。能够帮助企业提高生产和维修效率,同时也是外出维修人员修屏的好帮手。
 
升级一、升级成电容式触摸感应按键、高灵敏度、减少生产线人员手指的疲劳、使用寿命更长,淘汰机械式轻触式按钮; 
升级二、全新升级二代漏电测试,查找漏电更加彻底,针对漏电现象可以锁定到具体某个灯,使用该功能可避免在漏电的行中,盲目寻找漏电灯管,操作简单;
升级三、支持更多的驱动芯片,第三代全面支持PWM芯片,在LED显示屏中常用MBI5042等兼容的芯片;
升级四、支持有驱动芯片的LED全彩外露串灯(发光字串灯),支持信号单、双线传输,灰度支持32级、256级等,支持LPD6803系列兼容的芯片、WS2811系列兼容的芯片、SM16716系列兼容的芯片、WS2801系列兼容的芯片。
升级五、生产LED模组或LED全彩外露串灯(发光字串灯)时,测试人员因亮度刺眼而带墨镜,第三代测试卡有8级亮度调整,你可以根据实际情况调整你所需的亮度,操作简单快捷,让您摆脱墨镜困扰。


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