供应台式膜厚测试仪（博曼）

手机站

企业库

您当前位置是：商业机会 >> 仪器仪表 >> 分析仪器 >> 供应台式膜厚测试仪（博曼）

供应台式膜厚测试仪（博曼）

供应台式膜厚测试仪（博曼） _深圳市金东霖科技有限公司_供应台式膜厚测试仪（博曼）

点此浏览大图

公　司：深圳市金东霖科技有限公司

发布时间：2017年11月09日

有效期：2018年05月11日

留言询价

加为商友

联系信息

企业信息

周小姐女士 (销售)

联系时，请说是在企业录看到的，谢谢！

电　　话： 0755-29371651 传　　真： 0755-29371653 手　　机： 13826530106 地　　址：中国广东深圳市沙井北环大道新桥综合大楼502 邮　　编： 518000
公司主页：	http://jdlzt5158.qy6.com.cn(加入收藏)

详细说明

半导体博曼X-RAY镀层膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的BOWMAN专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。博曼膜厚测试仪可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达25种独立元素的多镀层的厚度和成分。有需要的朋友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴！联系人：周小姐，联系电话：0755-29371651

免责声明：以上所展示的信息由会员自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责，www.qy6.com.cn对此不承担任何责任。如有侵犯您的权益，请来信通知删除。

该公司其他商业信息

1 直接到第页

共 20 条信息，当前显示第 1 - 20 条，共 1 页

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ..

联系人：周小姐电话：0755-29371651