德国FISCHER菲希尔X射线荧光光谱仪 华东总代理—供应商、厂家、特点、详细说明：
材料分析－FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY
X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。
可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可以对未知材料进行简单，快速而精确的分析。分析范围从铝（Al)到铀（U），即使含量很小也可以测量。
这些独特的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件。
如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠宝和贵金属领域快速、无损和精确测量金含量的理想设备。
1、XAN® 120X射线光谱仪
贵金属及珠宝首饰材料分析的理想工具
新款FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 120是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。
XAN® 120测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。
无论您想测量未知样品还是测定未知材料，XAN® 120 配合优异的菲希尔 WinFTM® 运行软件都是您正确的选择。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN® 120 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统，将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。
长期的稳定性和出色的精确度——对于金优于1‰——是 XAN® 120的优势所在。而且，由于不需要经常进行再校准，从而节省了使用者的时间、精力及经营成本。测量结果可以以Karat、 ‰ 或重量 %显示，并且可以按客户报表打印输出。
优秀的人体学设计，简单的操作即测量结果的快速计算是对XAN® 120*好的描述。使用安全而简单——无论是对经验丰富还是接受较少培训的员工都是如此。不需要为XAN® 120特别设置一个实验室房间。如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，XAN® 120 是您正确的选择。 为个人计算机而设计的WinFTM® 测试软件
先进的Fischer WinFTM® 软件有着无与伦比的性能：完整、简单易用而且不需要补充模块或是软件升级。软件包括 ：
X射线部件的操作
控制整个测量过程
先进的基本参数法可进行无标准片测量
用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量
可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度
按照元素波峰进行自动元素识别
测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
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