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高低温试验箱GB T2423.1低温试验方法说明(二) 高低温试验箱GB T2423.1低温试验方法说明(二)_上海林频仪器股份有限公司_高低温试验箱GB T2423.1低温试验方法说明(二)

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公 司: 上海林频仪器股份有限公司
发布时间:2018年12月24日
有 效 期:2019年06月25日
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公 司:上海林频仪器股份有限公司

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详细说明

    非散热试验样品的试验:在温度渐变试验Ab中,试验样品放入处于试验室温度的高低温试验箱中,然后慢慢减低试验箱中温度,防止由于温度改变而对试验样品产生有害作用。建议采用高气流速度循环,因为这样可以减少达到温度稳定所需要的时间。
散热试验样品的试验:验Ad和试验Ae描述了散热试验样品在低气流速度循环下的试验程序。这允许试验样品的局部发热点在其内扩展的情况,类似于安装后的产品在应用中发生的情况。
温度监控:使用温度传感器来测量高低温试验箱里的空气温度,温度传感器的位置离试验样品的距离应确保其受热扩散的影响可忽略不计。应适当注意以避免热辐射影响这些测量,更多信息见GB/T2424.5.
包装:对于贮存好运输试验,高低温试验箱可以带包装进行试验。然而,由于本部分规定的低温试验是稳态试验,设备最终稳定在试验箱温度,所以,应去掉包装进行试验,除非相关规范要求带包装,或者法尔元件是与包装合为一体的。
为了便于试验方法的选择,图1给出了高低温试验箱几种不同试验方法的图示。

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