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球差校正透射电子显微镜检测测试服务

详细说明

    测试要求

1、块体用fib制样,厚度30nm左右;粉末提供10mg左右;

2、纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样;

常见问题

1. 样品为什么会积碳,积碳有什么影响?

答:样品中有机物的影响,制备过程含有机物,或者样品吸附空气中污染物;积碳会影响STEM模式的拍摄效果,让视野模糊不清。

2. 有什么方法可以改善积碳带来的影响?是否一定有用?



答:等离子清洗制好样的载网,但有洗坏样品的风险,可以会导致负载颗粒脱落等风险;电子束辐照样品一段时间,理论上会有改善,但是实际不一定会有明显效果。

3. 我要拍的单原子,为什么整片区域都是很亮的,看不清单个的?

答:样品太厚,或者负载量太大等。

4. 为什么拍不到原子分辨率的mapping和eels?

答:原子相要求样品很薄,样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱,不利于收集信号。那就要求样品很薄,很稳定,能长时间收集信号,且要求原子序数都比较大的。一般样品很难同时符合这几个要求。

5. 拍球差的样品为什么要很薄?

答:薄的样品可以减少电子在样品中的弹射次数,分辨率就会比较高。

6. 样品很厚是不是制样没超声好?

答:球差一般是拍样品边缘几个nm的区域,所以对于原子相样品团聚不会影响到拍摄效果,但样品本身很厚就会有影响,这个与超声分散的效果没有关系,与样品本身的厚薄有关。

 
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