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膜厚仪高端型X-RAY金属镀层测厚仪

详细说明

    轻巧的设计,半开放式测试算,可容纳大件的PCB产品,功能强大,可配合激光自动对焦,全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。

美国博曼(Bowman) 更配备了半导体电子冷却检测器,令分辩率数倍提高,可测量非常薄的镀层,满足于半导体电子工业的应用。



XRF-2000 系列分为以下三种:  

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  

2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  

3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。   

应用 : 电子产品加工和出口企业,塑料原料和注塑,五金产品的加工,电子RoHS,无卤,WEEE等环保指令应对、金属合金成分分析





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